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产品型号:LSM-9001NIR
厂商性质:代理商
更新时间:2026-09-28
访 问 量:69
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联系电话:158-1555-0998
半导体晶片LUCEO鲁机欧近红外应力应变仪
半导体晶片LUCEO鲁机欧近红外应力应变仪
利用二维分布分析低相位差样品(例如半导体晶片、彩色玻璃和彩色丙烯酸树脂制品)的应变。1
分钟内可评估约 50 x 50 毫米的样品。
<型号名称>
全自动应变眼LSM-9001NIR
<检测方法>
近红外旋转分析仪法
全自动测量功能可减少测量员的工作量和测量误差。
只需放置待测物体并点击测量按钮,即可利用内置摄像头捕捉的信息获得测量结果。由于无需测量员进行任何判断,因此消除了由判断引起的测量误差。
* 该仪器能够对半导体晶片、有色或透明产品进行应变评估,并测量残余应力和裂纹,而这些是传统偏光镜无法测量的。
软件分析工具
包括二维分布图横截面图、任意设定面积的直方图、二维分布图的三维显示、测量结果的CSV存储以及图像存储。这些功能均包含在软件中,可用于分析评估结果。
* 采用长寿命、节能的
高亮度LED作为光源。这减少了与光源更换相关的维护时间和运行成本。
| 检查方法 | 近红外旋转分析仪法 |
| 测量范围(约) | 0~150nm(延迟) |
| 测量区域大小 | (约)50×50毫米 |
| 测量对象放置空间(高度) | 最大160毫米 |
| 尺寸 | 宽300毫米 深353毫米 高540毫米 |
| 重量 | 22公斤 |
| 其他的 | 光源:高亮度LED; 电源:AC100~240V 50/60Hz,直流输入24V 1.6A; 组件:主机、PC、线缆; 配件:主机盖; 操作系统:Windows 10 专业版(64位),日语/英语 |