日本代理OTSUKA大塚ELSZneoSE ZETA电位和粒度测量系统
日本代理OTSUKA大塚ZETA电位和粒度测量系统

日本代理OTSUKA大塚ZETA电位和粒度测量系统

日本代理OTSUKA大塚ZETA电位和粒度测量系统

本产品是一款专用于测量颗粒尺寸和zeta电位的仪器。ELSZneoSE提供ELSZneo的新功能作为可选特性。您可以根据具体应用需求自定义这些功能。　

• 可根据您的需要添加功能（分子量测量、颗粒浓度测量、微流变学测量、凝胶网络结构分析、多角度粒径测量）。

• 使用标准流动池可以连续测量粒径和zeta电位。

• 可以在很宽的浓度范围内测量颗粒尺寸和zeta电位，从稀溶液到浓溶液（高达40%）。

• 在高盐浓度下可以测量平面样品的zeta电位。

• 测量温度范围很广，从 0 到 90°C 均可进行。

• 温度梯度函数能够分析蛋白质和其他材料的变性和相变温度。

• 通过测量和绘制细胞内的电渗流，我们获得了高度精确的zeta电位测量结果。

• 可加装荧光滤光片（可选）。

这非常适合对微粒、薄膜和片状样品等表面科学进行基础研究和应用研究，研究领域包括界面化学、无机材料、生命科学、半导体、聚合物、生物学、药学和医学。

• 新型功能材料领域：
  燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、纤维素纳米纤维、功能膜、催化剂、纳米金属）、
  生物纳米相关（纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、生物纳米颗粒）、纳米气泡、
  生物相容性材料等。
   

• 陶瓷和着色剂行业：
  无机溶胶 的表面改性、分散和聚集控制；颜料（炭黑、有机颜料）的分散和聚集控制；以及浆状样品和滤色片中矿物浮选吸附的研究。
   

• 在半导体领域，
  我们正在阐明异物粘附于硅片表面的机理，并研究磨料和添加剂与硅片表面的相互作用。我们还在研究
   化学机械抛光（CMP）浆料。
   

• 聚合物和化学工业
  研究 ：乳液（涂料和粘合剂）的分散和聚集控制，乳胶（医药和工业）的表面改性，聚合物电解质（聚苯乙烯磺酸盐、聚羧酸等）的功能，以及造纸工艺控制和
  功能性纳米颗粒纸浆和纸浆
  的纸浆添加剂研究。
   

• 　
  控制制药和食品工业中乳液（食品、香料、医药和化妆品）的分散和聚集；
  控制功能性脂质体和蛋白质囊泡的分散和聚集；以及控制表面活性剂（胶束）的功能。
   

测量项目　　　　　　　　　

Zeta电位和粒径

规格　　　　　　　　　

●承保范围

*1（标准颗粒：0.00001%至10%，牛磺胆酸：高达40%）

能够测量粒径和zeta电位的单元

一种能够测量颗粒尺寸的样品池。
可以使用市售的矩形样品池。