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日本代理OTSUKA大塚电子纳米粒子径测试系统

日本代理OTSUKA大塚电子 nanoSAQLA 纳米粒子径测试系统
日本代理OTSUKA大塚电子纳米粒子径测试系统

  • 产品型号:nanoSAQLA
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-07-27
  • 访  问  量:18
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产品详情

日本代理OTSUKA大塚电子纳米粒子径测试系统

日本代理OTSUKA大塚电子纳米粒子径测试系统


大塚 nanoSAQLA 是一款采用动态光散射法(DLS)的高效纳米粒子径测试系统,支持多样品连续自动检测、广泛浓度范围测量以及轻量化小型设计,是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量"的新产品。


特长

● 1台便可实再5个样品的连续测量

实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品

可以改变每个样品的条件进行测量

● 可以对应从稀薄到浓厚的样品

● 标准测量时间1分的高度测量

自动调整从浓厚系到稀薄系样品的最佳测量位置,实现约1分钟的高速测量

● 配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)

没有任何复杂的操作,简单易懂的软件

● 因为每个样品槽都是独立的,没有接触污染的风险。

● 搭载温度梯度功能


测量范围(理论值)

● 粒径0.6nm~10μm

● 浓度范围 0.00001~40%

● 温度范围0~90℃*

 

多检体奈米粒径分析仪规格

量测原理动态光散射(DLS)
光源高输出半导体雷射
检出器高感度APD
自动进样系统对应最多5支样品自动量测
粒径范围粒径显示范围:0.1nm~1mm
信赖保证范围:0.6nm~10μm
浓度范围0.00001 ~ 40%
温控范围0 ~ 90℃ *(具备梯度功能)*若使用抛弃式容器为0 ~ 40℃
尺寸240 (W) × 480 (D) × 375 (H) mm
重量约18 kg
ISO符合ISO 22412:2017
软体功能平均粒径解析(Cummulant)
粒度分布解析(Marquardt / NNLS / Contin / Unimodal)
粒度分布重叠
逆相关函数& 残差图表
粒径监控功能
粒径显示范围(0.1 ~ 10^6 nm)








测量示例

不同溶剂的5个样品连续测量

日本代理OTSUKA大塚电子纳米粒子径测试系统

温度梯度机能使用的测定

日本代理OTSUKA大塚电子纳米粒子径测试系统


可对应宽泛粒径的范围的测量

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