代理OTSUKA大塚电子 MINUK 光波动场三次元显微镜
代理OTSUKA大塚电子光波动场三次元显微镜

代理OTSUKA大塚电子光波动场三次元显微镜

代理OTSUKA大塚电子光波动场三次元显微镜

MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。

大塚光波动场三次元显微镜MINUK的核心原理，是直接捕捉与分析光波的“波面"（即光的振幅与相位所构成的三维场）。测量时，设备向样品照射638nm波长的激光。当激光穿过透明或半透明样品时，会因样品内部厚度与折射率的变化而导致光波波面发生改变。这一变化被高精度波前传感器捕捉，随后由大塚电子的软件进行数值解析，并重新构建出样品的三维图像。

由于无需经过成像光学系统，MINUK从根本上避免了传统透镜带来的像差问题。它能够在单次拍照（最短记录时间小于1毫秒）的瞬间，同时获取样品XY平面（700×700μm视野）与Z轴深度方向（最深1400μm）的全部信息，并以约2μm的轴向分辨率生成约700张切片图像

规格

测量案例

将肉眼无法看见的透明薄膜表面可视化・定量化

可以非接触、非破坏性、非侵入性地获得nm级的形状信息。通过一次拍照即可获取深度方向的信息，可以将透明薄膜表面上肉眼不可见的划痕和缺陷的横截面形状数值化实现可视化。

观察透明薄膜内部的填充剂

肉眼无法看到的透明薄膜内部的填充剂，通过一次拍照即可观察到。此外，通过在测量后改变深度方向的焦点，可以识别到各个深度的填充剂。