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日本代理OTSUKA大塚电子低相位差高速检测仪

日本代理OTSUKA大塚电子 RE-200 低相位差高速检测仪
日本代理OTSUKA大塚电子低相位差高速检测仪

产品型号：RE-200
厂商性质：代理商
更新时间：2026-07-28
访问量：15

联系电话：135-3775-9898

日本代理OTSUKA大塚电子低相位差高速检测仪

低相位差高速检测设备RE-200

RE-200是人造光子晶体(偏光素子)与CCD感光元件所构成的偏光检测仪、搭配带有穿透率特性的各种偏光元件、可以同时进行相位差与光学轴的高速量测。
CCD感光元件会自动撷取经过偏光后所呈现的画面进行解析。相较以往、不需要再使用任何的驱动元件来寻找偏光后的受光强度。不但可提高再现性的精度、更具备长时间使用的安定性。

产品特色

⦿可测量从0nm开始的低相位差(残留应力)
⦿检测光学轴的同时，同步高速测量相位差(Re.)(0.1秒以下的高速同时量测)
⦿偏光检测仪无任何驱动元件干扰，可提高再现性量测精度
⦿无需复杂参数设定，操作简单易懂
⦿550nm以外，亦可支援其它波长量测
⦿ Rth量测、全角度量测需搭配自动旋转倾斜装置(仅对应Off Line)
⦿搭配拉力测试机可同时量测薄膜偏光特性与光弹性(特殊规格)

Off Line用途(离线检测)

⦿相位差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种机能性薄膜
⦿树脂、玻璃等透明带有低相位差之样品(残留应力)

Off Line用途(选配部品)

⦿Rth量测、全角度量测需搭配自动旋转倾斜装置(仅对应Off Line)
日本代理OTSUKA大塚电子低相位差高速检测仪

In Line用途(线上即时检测)

⦿适用于生产线中的即时监控可搭配复数偏光检测仪。同时进行多点位、多角度(Rth)量测
⦿最短0.05秒（20Hz）的高速节拍时间
⦿轻巧设计、省设置空间
⦿实现高可靠性、高重复性
日本代理OTSUKA大塚电子低相位差高速检测仪

规格样式

	RE-200
样品尺寸	最小10 × 10mm ~ 最大100 × 100mm
量测波长	550nm(标准规格)※1
相位差量测范围	约0nm ~ 约10μm
相位差量测精度	0.05nm(3σ)※2
光学轴量测精度	0.05°(3σ)※2
解析元件	偏振器阵列
量测口径	2.2毫米×2.2毫米
量测光源种类	100W卤素灯或LED光源
尺寸	300（宽）× 560（高）× 430（深）毫米
重量	约20kg

※1可选择其他波长
※2量测水晶波长板之精度(约550nm，2枚型)

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低相位差高速检测设备RE-200

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