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日本代理OTSUKA大塚电子显微分光测定装置

日本代理OTSUKA大塚电子 TLCF 200QD 显微分光测定装置
日本代理OTSUKA大塚电子显微分光测定装置

  • 产品型号:TLCF 200QD
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-07-29
  • 访  问  量:8
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产品详情

日本代理OTSUKA大塚电子显微分光测定装置

日本代理OTSUKA大塚电子显微分光测定装置


量子点对应彩色滤光片色度检查显微分光测定装置TLCF 200QD

●量测方法为采用蓝光励起之色度量测法-采用光源色之量测光学系
●采用光谱仪MCPD-9800:提供产品高信赖度的量测方案。 MCPD产品完整符合日本工业规格JIS Z8724(色量测法-光源色)
●穿透型CF的Spot size φ2um & φ10um (option)相互切换:φ2um对应微小画素可增加信赖性和φ10um对应TV画素可节省Tact time
●小型TLCF-200QD (XY平台:自动)体积小利于空间规划。落地式设备、可轻松移动便于设置
●评价项目:发光色度(Yxy) 、色度(XYZ, xy, Lab, L*a*b*, u'v', u*v*)

产品特色

彩色滤光片检测阵容中加入新机型

 日本代理OTSUKA大塚电子显微分光测定装置 日本代理OTSUKA大塚电子显微分光测定装置 
桌上型彩色滤光片检测设备LCF-6000进化至TLCF-200QD
本制品为可对应量子点的彩色滤光片在RGB发光状态下之色度评价装置
量测方法为采用蓝光励起之色度量测法-采用光源色之量测光学系
适用于穿戴式等智慧型面板显示技术所使用量子点光阻及薄膜之色度评价
 

值得信頼的技术

  • 长年深耕中国台湾、LCF系列的业界销售实绩超过200余台。轻松量测微小画素、减少人为误差

  • Auto Focus 全自动对焦量测功能:即使彩色光阻面内涂布均匀性有差异也能精确对焦

  • Auto Alignment 全自动对位功能:不需手动执行量测位置的对位、系统自动执行RGB 各Dot 中心位置的高精度对位与量测

  • 采用光谱仪MCPD-9800:提供产品高信赖度的量测方案。 MCPD产品完整符合日本工业规格JIS Z8724(色量测法-光源色)

  • LCF系列均使用长动作距离显微镜、可有效减少产线与实验室间的机差问题

  • 使用标准配备之画素对位用CCD camera、可同时进行图像解析与储存量测数值

 日本代理OTSUKA大塚电子显微分光测定装置
       量测时显示画面Auto Alignment功能量测点图像的解析与保存
 

智慧型面板彩色滤光片对应技术

  • 自主研发可对应量子点的发光色度检测系统。 (蓝光光源455nm的激发)

  • 穿透型CF的Spot size φ2um & φ10um (option)相互切换:φ2um对应微小画素可增加信赖性和φ10um对应TV画素可节省Tact time

  • 气垫式避震设计、避免环境震动源影响量测值 

  • 搭配暗室环境可满足OD5以上的高OD量测需求

  • 小型TLCF-200QD (XY平台:自动) 体积小利于空间规划。落地式设备、可轻松移动便于设置

 日本代理OTSUKA大塚电子显微分光测定装置
    使用长动作距离显微镜气垫式避震设计 Spot size 相互切换 小型TLCF的XY平台
 
 日本代理OTSUKA大塚电子显微分光测定装置
                 采用光谱仪MCPD-9800 发光色度量测显示
 

量测项目

  • 光源色量测法:发光色度(Yxy) 

  • 物体色量测法:色度(XYZ, xy, Lab, L*a*b*, u'v', u*v*)、色差(⊿E*ab, ⊿E*uv)、指定波长的穿透率・指定穿透率的波长检出

  • Option:光学浓度量测、反射率量测、膜厚量测

       日本代理OTSUKA大塚电子显微分光测定装置
 

应用范围

因AI、5G、IoT而造就出对智慧面板量测

 日本代理OTSUKA大塚电子显微分光测定装置

模型显微分光测定装置TLCF QD series
量测Mode量子点型CF穿透型CF
量测基板尺寸30 x 30 毫米 - 200 x 200 毫米 
色度解析法 光源色量测法 物体色量测法
量测口径φ10微米 φ2um・φ10um(可选)
检出器分光光谱仪MCPD-9800
光 源蓝色LED(455nm) 卤素 
评价项目1色度(XYZ, xy, Lab, L*a*b*, u'v', u*v*)
色差(⊿E*ab、 ⊿E*uv)
指定波长的穿透率・指定穿透率的波长检出
评价项目2量测项目的判定OK/GY/NG
量测部架台外形尺寸 日本代理OTSUKA大塚电子显微分光测定装置 1000(宽)× 1000(深)× 1400(高)毫米

选项

X-Y平台自动Glass Wafer (圆形)
测量板尺寸请洽询我们
量测项目・光学浓度量测侦测器:光电子增倍管、Spot size: φ20um・φ2mm、量测范围OD1 - OD6(比视感度)
量测项目・反射率量测最大最小反射率波长、指定反射率或波长的量测值
量测项目・膜厚量测反射分光法的光干涉法、Spot size: min.φ10um、量测范围65nm~45μm


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