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原厂进口代理OTSUKA大塚电子相位差检测设备

原厂进口代理OTSUKA大塚 RETS-100nx 电子相位差检测设备
原厂进口代理OTSUKA大塚电子相位差检测设备

产品型号：RETS-100nx
厂商性质：代理商
更新时间：2026-07-29
访问量：15

联系电话：135-3775-9898

原厂进口代理OTSUKA大塚电子相位差检测设备

相位差检测设备RETS-100nx

兼具广泛用途与高精度、所有光学机能膜材皆可对应

薄膜、光学材料:
Retardation(波长分散)、迟相轴、Rth(＊1)、3维折射率(＊1) 等
偏光板:
吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种穿透率等
液晶Cell:
Cell Gap、Pre-tilt角(＊1)、Twist角、配向角等

＊1：需要倾斜旋转量测台。 (选购品)

相位差检测设备RETS-100nx产品特色

独自开发的分光器可提供高精度量测
■ 高精度

■支援各量测范围 Retardation : 0 ～ 60000nm
原厂进口代理OTSUKA大塚电子相位差检测设备
超高相位差量测-可高速・高精度量测超复曲折膜-
■ 高相位差

多层量测-无须剥离、以非破坏式量测各种光学机能膜材的积层状态

轴角度补偿功能-样品设置有误差也可轻松完成再现性量测-
■ 样品重制10次,对角度补偿有无的结果比较
　　【样品：相位差膜R85 】
原厂进口代理OTSUKA大塚电子相位差检测设备

简单易懂的软体-量测时间及解析时间大幅缩短。操作性大幅UP-

规格样式

	RETS-100nx
Retardation 量测范围	0 ~ 60,000nm
Retardation 可反覆操作	3σ≦0.08nm(水晶波长板约600nm)
Cell Gap 量测范围	0 ~ 600μm(当Δn=0.1时)
Cell Gap 可反覆操作	3σ≦0.005μm(当Cell Gap约3μｍ、Δｎ＝0.1时)
轴检出可反覆操作	3σ≦0.005μm(当Cell Gap约3μｍ、Δｎ＝0.1时)
量测波长范围	400 ~ 800nm(有其他选择)
探测器	多通道分光光谱仪
量测外径	φ2 or φ5㎜(标准规格)
光源	100W 卤素灯
数据处理部	个人电脑、伺服器
量测台尺寸标准	100mm × 100mm(固定量测台)
设备尺寸	W480 × D520 × H765mm
选购品	‧超高Retardation量测 ‧多层量测 ‧轴角度补偿功能 ‧XY量测台(自动・手动) ‧倾斜旋转量测台(自动・手动)

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相位差检测设备RETS-100nx

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