日本代理OTSUKA大塚电子量子效率量测系统

日本代理OTSUKA大塚电子量子效率量测系统

量子效率量测系统QE-2100

高精度量测
・可瞬间量测绝对量子效率(绝对量子收率)
・可去除再励起萤光发光
・透过积分半球的采用、实现明亮的光学架构
・采用低杂散光多通道分光器,降低紫外线领域的杂散光
・透过温度控管功能(50~300℃)、可量测量子效率(量子收率)的温度依存性
・可对应从紫外线到红外线的波长范围(300~1600nm)

操作简单
・搭配专用软体,操作简单轻松
・测试量测用Cell的装卸容易
・机身小型化设计,可节省空间
・透过运用分光器类型的励起光源、可任意选择波长
・透过软体上指定励起波长的波长及STEP的数值,便可自动量测

多功能
・对应粉体、液体、固体(膜)、薄膜样品
・丰富的解析功能
 

量子效率（量子收率）的量测
励起波长依存性的量测
发光光谱的量测
PL励起光谱量测
EEM（Excitation Emission Matrix）量测
 

LED、有机EL用萤光体的量子效率（量子收率）量测
膜状样品的透过萤光・反射萤光的量子效率（量子收率）量测
- remote phospher用萤光体样品等
量子点、Fluorescent tag 、生物领域、笼形复合物等的萤光量测
染料敏化太阳能电池的量子效率（量子收率）量测
错合物的量测
 

透过积分半球实现理想的光学结构
QE-2100搭载积分半球。积分半球与积分球（整颗）比较后,特色如下列叙述.
非发光部分（支架等）能排出于外部,以利控制减少吸收,实现理想的光学结构
透过镜面同一个点的照度约为2倍、可高感度的进行量测
样品量测用Cell的装卸简单、可降低造成积分求内部损伤的风险
 




 

含再励起萤光发光状态下、并不会只观测到材料的物、会连同装置的特性一并观测的关系、无法得到真正的物性值.
QE-2100会透过利用积分半球的优势再励起萤光补偿、可简便高精度的进行量测

再励起萤光发光是指,萤光体样品表面反射后的励起光于积分球内扩散反射、再入射到萤光样品后再度发光的现象.
 
 

以往的检测器(Polychromator)总会于紫外线区域检测到许多杂散光、可说是不适合量子效率(量子收率)的量测
大冢电子致力于开发除去杂散光的技术、并解决此问题.QE-2100所搭载的多通道分光检出器与敝司以往的产品相比、杂散光量可控制低于1/5,于紫外线区域也可执行高精度的量测.
 

产品规格