原装代理OTSUKA大塚电子多通道分光光谱仪

原装代理OTSUKA大塚电子多通道分光光谱仪

多通道分光光谱仪MCPD-6800

・多通道分光光谱仪高速量测紫外光(UV)、可见光(VIS)、近红外光(NIR)光谱
・16msec的高速光谱解析
・功能丰富的专用软体，可进行显微分光、发光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光谱量测
・不限制标准配备光纤及样品种类，可对应各种光学测定系统
・迷光率较历代机种减少1/5
・实现高速化曝光时间及高线性
・轻量化装置，容积比较过去机种减少约60%
 

♦根据用途的各种检测器阵容

以最高阶机种MCPD-9800为首,有3种类12个波长范围的检测器。
可依照客户的需求及量测用途,选择最合适的检测器。


 

♦通信介面可对应USB及LAN

具备通用的USB接口及搭载远程遥控量测的LAN通信功能,使得便利性及测量用途的范围增加。
 

♦高速・高感度测量光谱

针对时时变化的紫外线、可视光、近红外领域的发光、透过及吸收光谱,利用512ch或1024ch的检测单位及检测器内部记忆体,可以最高速5微秒(使用MCPD-9800的情况下)为间隔进行高感度及高精度的测量。

 

♦利用光纤搭建自由好用的光学系

透过标配的光纤,不受样品形状及大小的约束,可自由搭建想要的光学系。
此外,可简单与显微镜及大型平台等其他装置组合,因此在任何领域都可发挥优秀的性能。
 

♦对应日本工业标准（JIS）！可提供高性能的分光测光器

MCPD符合日本工业标准JIS Z8724（颜色的量测方法-光源色)中对分光测光器的精度要求。
1.波长刻度的正确性
       波长的偏差低于0.5m以下
2.测光刻度的正确性
       强度比2:1的直线偏差低于0.5%以内
       此时的再现性于0.2%以内
       强度比10:1的直线偏差低于1%以内
       此时的再现性于0.5%以内
3.杂散光
       白炽灯作为光源时450nm的杂散光于1.0%以下
4.有效受光面
       不感带的分散方向的宽度,于受光素子的间隔的1/5以下
5.准直仪
       焦点距离和绕射光栅的刻线密度和面积于3x 10^4以上

 

♦可追溯至国家标准,提供可靠的校正服务

在根据计量法制定的校正实验室注册制度（JCSS*1注册制度）下，大冢电子的光计测实验室被认证为属于“光"注册分类的国际MRA*2应对的JCSS校正实验室。
为了能公正评估照明器具和光源的性能，不分国内海外都不断推进光特性的测定方法等各种标准化,这些标准化所要求的测光,均以“光"的可追溯性为基础。
大冢电子透过「光」的校正事业,提供测光的可追溯性, 不断为普及及发展节能环保的照明贡献一份心力。

*1 JCSS（Japan Calibration Service System）：计量法校正事业者登录制度
*2 国际MRA（Mutual Recognition Agreement）：国际相互承认


 

备有丰富的选配套件以及分析软体。
藉由累积的技术与专业知识、提供比客户需求更进一步的“最佳方案"。

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