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产品型号:MINUK
厂商性质:代理商
更新时间:2026-07-29
访 问 量:11
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联系电话:135-3775-9898
日本代理OTSUKA大塚电子光波动场3D显微镜
日本代理OTSUKA大塚电子光波动场3D显微镜
nm等级的透明异物・缺陷量测评价
不仅只于表面,1次取样瞬间取得深度方向的情报
无需对焦即可高速量测
非破坏・非接触・非侵入式量测
轻松扫描量测面内任意位置深度
量测时无须对焦,数据取得后可使用软体任意聚焦于想要观察的深度表面。

单次量测可取得XY(700×700μm),Z深度1400 μm的所有资讯。
以非接触・非破壊・非侵入方式取得nm奈米等级的形状情报。一次取样即可取得深度方向的所有情报,将肉眼不可见的透明薄膜表面的伤痕、缺陷等横切面形状数值化。
肉眼不可见的透明薄膜内部的填充料,由一次取样即可观察。量测后可自由改变深度方项,识别各个深度的填充料。
可以快速视觉化和量化在表面或内部形成的肉眼无法看到的透明结构。
图为黏着剂在载玻片上干燥状态,右边为红线的横切面。
在一次性成像模式下,可以视觉化和量化不断变化的形状,例如液体。
可以用来评估动态变化的物体并阐明动态现象的机制。
图为载玻片上甲醇的蒸发现象。
传统显微镜在观察细胞等透明物质需要染色,光波动场3D显微镜在明视野模式下可以不需染色直接观察,更能清楚看到细胞核等。
| 光波动场3D显微镜MINUK | |
|---|---|
| 解析度 x,y | 691nm(一次取样)、488nm(合成) |
| 视野 x,y | 700×700μm |
| 解析度 z | 10nm(位相差) |
| 视野 z | ±700μm |
| 样品尺寸 | 100×80×t20mm(使用泛用载台时) |
| 样品载台 | 微调XY载台(自动) X:±10mm Y:±10mm 粗调载台 X:129mm Y:85mm |
| 雷射光源 | 波长638nm 功率0.39mW 以下Class1 (量测样品的照射强度) |
| 机台尺寸 | 机台本体:505(W)×630(D)×439(H) ±20mm ※不含电脑、附属品 |
| 重量 | 约41kg |
| 电力 | 机台本体:290VA ※不含电脑、附属品 |