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产品型号:nanoSAQLA+AS50
厂商性质:代理商
更新时间:2026-07-27
访 问 量:11
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进口代理OTSUKA大塚电子纳米粒子径测试系统
进口代理OTSUKA大塚电子纳米粒子径测试系统
多检体奈米粒径量测自动进样系统nanoSAQLA+AS50,nanoSAQLA是使用DLS动态光散射量测奈米粒径的机台。针对品管需求等等追加多检体量测功能。诉求简单、轻量化、好操作、高精度,实现稀薄~高浓度溶液的广范围奈米粒径量测。最多连续量测50个检体,实现小容量、高速、无污染自动。
特长
● 1台便可实再5个样品的连续测量
实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品
可以改变每个样品的条件进行测量
● 可以对应从稀薄到浓厚的样品
● 标准测量时间1分的高度测量
自动调整从浓厚系到稀薄系样品的最佳测量位置,实现约1分钟的高速测量
● 配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)
没有任何复杂的操作,简单易懂的软件
● 因为每个样品槽都是独立的,没有接触污染的风险。
● 搭载温度梯度功能
测量范围(理论值)
● 粒径0.6nm~10μm
● 浓度范围 0.00001~40%
● 温度范围0~90℃*
多检体奈米粒径分析仪规格 | |
|---|---|
| 量测原理 | 动态光散射(DLS) |
| 光源 | 高输出半导体雷射 |
| 检出器 | 高感度APD |
| 自动进样系统 | 对应最多5支样品自动量测 |
| 粒径范围 | 粒径显示范围:0.1nm~1mm 信赖保证范围:0.6nm~10μm |
| 浓度范围 | 0.00001 ~ 40% |
| 温控范围 | 0 ~ 90℃ *(具备梯度功能)*若使用抛弃式容器为0 ~ 40℃ |
| 尺寸 | 240 (W) × 480 (D) × 375 (H) mm |
| 重量 | 约18 kg |
| ISO | 符合ISO 22412:2017 |
| 软体功能 | 平均粒径解析(Cummulant) 粒度分布解析(Marquardt / NNLS / Contin / Unimodal) 粒度分布重叠 逆相关函数& 残差图表 粒径监控功能 粒径显示范围(0.1 ~ 10^6 nm) |
测量示例
不同溶剂的5个样品连续测量

温度梯度机能使用的测定

可对应宽泛粒径的范围的测量
