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原厂代理OTSUKA大塚电子界达电位粒径分析仪

原厂代理OTSUKA大塚电子 ELSZ-2000ZS 界达电位粒径分析仪
原厂代理OTSUKA大塚电子界达电位粒径分析仪

  • 产品型号:ELSZ-2000ZS
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-07-27
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原厂代理OTSUKA大塚电子界达电位粒径分析仪

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大塚科技的界达电位粒径分析仪ELSZ-2000ZS 是一款高性能精密仪器,主要用于测量纳米粒径、界达电位(Zeta电位)以及分子量。该系统采用动态光散射与电泳光散射技术,能够从稀溶液精确测至浓溶液。 

稀溶液到浓溶液,奈米粒径到固体表面电位评价,搭载业界最高功率半导体雷射及高感度APD,宽阔的粒径量测范围,不透光样品也可不稀释直接量测。实测电渗流,具备高可靠性的界达电位量测,高塩浓度下的界达电位量测,真实符合人体缓冲夜环境,固体表面电位量测,可研究固态与液态溶液的交互作用

应用范围:

  1. 半导体领域:矽晶圆表面所附着之异物解析研磨剂,添加剂与品园表面之相互作用研究,CMP Slurry

  2. 颜料、涂料、油墨领域:无机溶胶表面改质、分散、凝聚控制额料(黑碳、有机颜料)分散、凝聚控制彩色滤光片

  3. 医药、生物材料领域:蛋白质机能性微脂体、液胞分散与凝聚控制,奈米胶囊、网状高分子聚合物、DDS、生物奈米粒子

  4. 食品工业领域食品乳化剂、香料,乳制饮品,酒

  5. 新机能材料领域:奈米材料、奈米纤维、奈米碳材,奈米金粒子、量子点,电池能源材料、光触媒

  6. 高分子领域:涂料或黏着剂乳液、乳剂分散或凝聚状态,医药、工业用乳胶表面改质,电解质高分子机能性研究

粒径界达电位
量测原理动态光散射法(光子计数法)电气泳动光散射法(Laser Doppler)
光源高功率半导体雷射
感光元件高感度APD
样品容器/容量矩形容器:0.9mL~
微量容器:20μL~
标准容器:0.7mL~
量测范围粒径显示范围:0.1nm~1mm
信赖保证范围:0.6nm~10μm
no limit
温控系统0~90℃(刻度:0.1℃、具梯度功能)
电源规格100-120 VAC, 50-60 Hz, single phase
尺寸380(W) × 600(D) × 210(H)mm
重量约22kg



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