原厂代理OTSUKA大塚电子 MCPD series 膜厚光谱分析仪系统
原厂代理OTSUKA大塚电子膜厚光谱分析仪系统

原厂代理OTSUKA大塚电子膜厚光谱分析仪系统

原厂代理OTSUKA大塚电子膜厚光谱分析仪系统

OTSUKA大塚电子的膜厚光谱分析仪系统，是一套以多通道分光光谱仪（MCPD） 为核心，基于分光干涉法原理，实现非接触、非破坏式膜厚测量的光学检测平台。它并非单一产品，而是一个可高度灵活定制的系统家族

■系统构成范例

   膜厚量测(分光光谱仪+ 显微镜)
　影印机感光鼓膜厚度量测
　気水界面膜量测
　蒸馏膜量测
　多点膜厚量测

■应用范围
　半导体晶圆膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）
　光阻剥离液厚度、湿状薄膜
　涂布膜（色材膜、蒸镀膜、接着剂、压克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头）
　塑胶膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、机能性薄膜、包装膜

以高速、高感度量测紫外光、可见光、近红外光光谱为主的多通道分光光谱仪，搭配耐弯曲的光纤以及多样化套件，可发挥灵活度，自由架设于各种环境。再加上本公司专业的分光检测技术，提供给客户“满意的光学检测系统。继高动态范围分光光谱仪「MCPD-9800」后，再增加「MCPD-6800」，更进一步的扩大了应用领域。
 

■多款适用于各种应用领域的光谱仪

通讯模式可自由选择USB或LAN
　通讯模式采用高便利性的USB以及远端控制所需的LAN。可依照实际现场状况，规划出理想的工作环境。

■高速、高感度解析光谱

耐弯曲光纤可搭配出各种的光学检测架构
　耐弯曲光纤不受限于被测物的形状或大小，可依照现场地形地物自由地架设出理想的光学系统。无论是搭配显微镜架设于大型移动平台、或是安装于其他装置内部，皆可发挥出色优异的性能。
　

备有丰富的选配套件以及分析软体。藉由累积的技术与专业知识、提供比客户需求更进一步的“最佳方案"。

膜厚量测(分光光谱仪+ 显微镜)

　
 

弯曲面状膜厚度量测蒸馏膜量测