◎线性最小平方法解析光学常数（n:折射率、k:消光系数）

从薄膜到厚膜高范围的膜厚量测
使用反射光谱作为膜厚解析
一体型・低价格以非接触・非破壊的方式实现高精度量测
简单的条件设定与测定操作！简单上手的膜厚测定方式
波峰波谷法、傅立叶转换FFT解析法、非线形最小二乘法(Fitting)、最适化法等多种类膜厚量测分析
非线形最小二乘法(Fitting)膜厚解析演算、光学定数解析（n：曲折率、k：消光系数）代入
 

绝対反射率测定
膜厚解析（10层）
光学参数解析（n：曲折率、k：消光系数）
 

机能性Film材、塑胶可透光制品
透明导电膜（ITO、银Nanowire）、位相差Film材、偏光Film材、AR Film材、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、接着剤、粘着剤、保护Film材、HardCoat、耐指纹剤等
半导体
化合物半导体、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、 SOI、Sapphire等
表面处理
DLC coat、防锈剂、防雾剂等
光学材料
Filter、AR coat等
FPD
LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有机膜、封止剂）等
其他
HDD、磁気Tape、建材等